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RoHs熒光分析儀 添加時間：2018/4/9
產品詳情
基本信息
| 品牌： | 3DFAMILY | 型號： | ValidatorⅢ | 操作方式： | 自動 |
| 功能： | 檢測、觀察、分析 |
產品介紹
第三代3DFAMILY X射線熒光分析儀，采用世界上最先進的硅SIPIN探測器（分辨率為150ev），實現了無液態氮檢出器下高靈敏度的檢測功能。配備自動切換的濾光片及透射式X射線球管，最大程度地縮小了X射線源與被測物體的間距，從而在較低的電壓下達到同樣的激發效率，同時減少了漫射光的干擾，大大地提高了靈敏度和讀數的準確性，重復性。
產品特點
1、在測定微量成分時，由于X射線管的連續X射線所產生的散射線會產生較大的背景，致使目標峰的觀測比較困難。為了降低或消除背景和特征譜線等的散射X射線對高靈敏度分析的影響，此熒光分析儀配置了4種可自動切換的濾光片，有效地降低了背景和散射X射線的干擾，調整出最具感度的輻射，進一步提高了S/N的比值，從而可以進行更高靈敏度的微量分析。
2、X射線管的連續X射線所產生的散射線會產生較大的背景，軟件可自動過濾背景對分析結果的干擾，
從而能確保對任何塑料樣品的進行快速準確的分析。
3、當某些元素的電子由高等級向低等級越遷時釋放的能量相近，會使此時譜圖的波峰重疊在一起，由
此產生了重疊峰。SCIENSCOPE自行開發的軟件自動剝離重疊峰，確保了元素分析的正確性。
4、逃逸峰：由于采用的是Si針半導體探測器，因此當X射線熒光在通過探測器的時候，如果某種元素
的含量較高(能量也會相應的較高)，其被Si吸收的概率也就越大。此時，光譜圖中在該元素的能量
值減去Si能量值的地方回產生一個峰，此峰即為逃逸峰。
5、在電壓不穩的情況下，可對掃描譜圖的漂移進行自動追蹤補償。
2、X射線管的連續X射線所產生的散射線會產生較大的背景，軟件可自動過濾背景對分析結果的干擾，
從而能確保對任何塑料樣品的進行快速準確的分析。
3、當某些元素的電子由高等級向低等級越遷時釋放的能量相近，會使此時譜圖的波峰重疊在一起，由
此產生了重疊峰。SCIENSCOPE自行開發的軟件自動剝離重疊峰，確保了元素分析的正確性。
4、逃逸峰：由于采用的是Si針半導體探測器，因此當X射線熒光在通過探測器的時候，如果某種元素
的含量較高(能量也會相應的較高)，其被Si吸收的概率也就越大。此時，光譜圖中在該元素的能量
值減去Si能量值的地方回產生一個峰，此峰即為逃逸峰。
5、在電壓不穩的情況下，可對掃描譜圖的漂移進行自動追蹤補償。
技術參數
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分析原理
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能量色散X射線熒光分析法
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分析元素
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Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型）
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Na～U(任選：φ1.2mm/φ0.1mm切換方式型）
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檢出下限
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Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm
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樣品形狀
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最大460×380mm(高150mm)
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樣品
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塑料/金屬/紙/涂料/油墨/液體
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樣品室氣氛
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大氣
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X射線管
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靶材
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Rh
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管電壓
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最大50KV
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管電流
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最大1mA
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X射線照射徑
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1/3/5mm
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防護
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＜0.1mR/Hr (輻射低于電腦屏幕）
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檢測器
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硅SIPIN探測器
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光學圖像觀察
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倍率15倍
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軟件
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定性分析：自動定性（自動去背景/自動剝離重疊峰/自動補償逃逸峰/自動補償譜圖漂移）
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照射徑：1/3/5mm
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定量分析：基礎參數法/標準法/1點校正
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計算機
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CPU
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PentiumIV1.8GHz以上
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內存
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256MB以上
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硬盤
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20GB以上
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OS
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WindowXP
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監視器
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17寸LCD
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周圍溫度
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10～35。C（性能溫度）/5～40。C（動作溫度）
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周圍濕度
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5～31。C時溫度范圍：最大相對濕度80%以下 /31～40。C時溫度范圍：相對濕度50%以下
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電源
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AC110V/220V±10%、50/60HZ
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消耗電力
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1.3KVA以下（含計算機、LCD、打印機）
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設備重量
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約65kg(不含桌子、計算機）
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外形寸法
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600（W）×545（D）×435（H）mm
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應用領域
家電、電子、玩具、休閑和運動設備、自動售貨機等
